Questão de FísicaINMETRO - Pesquisador-Tecnologia - Metrologia de Materiais - Microscopia
Enunciado
Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.
Relatar um erro nesta questão
Continue estudando Física
Mais questões da mesma disciplina para manter o ritmo.
- 2016Designa-se por ‘pata de ganso’ a junção de três tendões musculares que possuem origens diferentes, mas atuam conjuntamente do quadril e joelho. Assinale a alternativa que apresenta o único músculo que não faz parte deste grupo muscular.Resolver
- CESPE2015Os instrumentos de medida, analógicos e digitais, quando bem utilizados, são importantes para a obtenção de dados em várias situações, sobretudo no campo industrial, no ensino e na pesquisa científica. Com relação a esses instrumentos, julgResolver
- CESPE2015Acerca de princípios relacionados a eletrostática e a eletrodinâmica, julgue os itens subsequentes. O conceito de capacitância refere-se à capacidade eletrostática dos capacitores, ou seja, à capacidade de armazenamento de cargas elétricas Resolver
- CESPE2015Considere que, no arranjo apresentado anteriormente, a massa da pequena esfera seja suficiente para puxar o carrinho para cima, ao longo da superfície do plano inclinado, com uma força de 0,3 N. Considere, ainda, que a massa do carrinho sejResolver